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技術文章

PCBA上電測試中的“軟啟動”設計:避免浪涌電流擊穿IC的電路保護方案

一、為什么“軟啟動”成為PCBA上電測試的必答題

SMT貼片加工后的FCT/老化環節,常有客戶反饋:板卡一上電就炸IC,或測試儀一合閘就跳閘。根因90%指向同一隱形殺手——浪涌電流。大容量電解、BULK電容在0μs瞬間呈“短路”狀態,可產生數十倍于工作電流的尖峰,直接擊穿MCU、FPGA、Driver等高價IC。軟啟動設計就是讓“電流爬坡”而不是“跳崖”,把ms級沖擊壓縮到可忽略的μs級斜率,從而保護器件、保護測試設備、保護產線良率。

二、浪涌電流到底有多大——算一筆簡單賬

以24V輸入、440μF母線電容為例,若無阻尼直接上電,理論峰值I≈24V/ESR(假設50mΩ)=480A;即使ESR增加到200mΩ,浪涌仍達120A,遠超常規DC-DC限流閾值(通常5A)。這就是軟啟動電路必須介入的底層邏輯。

三、PCBA軟啟動四大主流硬件方案

  1. NTC熱敏電阻限流
    原理:冷態高阻→熱態低阻,串在輸入端。
    優點:成本低,2×4mm小封裝,SMT可貼。
    缺點:反復上下電需冷卻時間,老化測試節拍受限;高溫環境阻值漂移大。
    適用:小功率(<30W)、對成本極敏感的消費級PCBA。

  2. 繼電器/可控硅旁路限流電阻
    原理:上電瞬間先經功率電阻限流,延時10~50ms后繼電器短接電阻。
    優點:幾乎零損耗,適合大功率>100W。
    缺點:繼電器體積大、壽命有限;需輔助電源驅動線圈。
    適用:工業電源、電機驅動板。

  3. MOSFET斜率控制(dV/dt)
    原理:用RC+MOSFET做“線性”導通,通過調節Gate電容讓VDS在2~5ms內緩慢下降。
    優點:無機械觸點,可SMT全貼,百萬次上電無疲勞;斜率可編程。
    缺點:MOSFET需選高SOA,Layout散熱要注意。
    適用:中高端工控、醫療、新能源PCBA,1943科技目前80%客戶方案采用此拓撲。

  4. 集成熱插拔控制器(Hot-Swap)
    原理:內部恒流環+功率MOSFET,通過外置Rsense實現0.2×IMAX的精密限流。
    優點:保護點精準,自帶短路、過壓、欠壓關斷;數字接口可回讀電流電壓。
    缺點:單價高,需I²C/SPI配置。
    適用:服務器背板、5G基站、高端ATE測試治具。

PCBA測試

四、1943科技在SMT產線如何落地“軟啟動”工藝

  1. DFM評審階段
    由工藝+測試工程師聯合審圖,把軟啟動器件(NTC、MOSFET、Rsense)納入“高優先級器件”清單,提前校驗封裝與銅箔面積:

    • DPAK/D2PAK MOSFET底部散熱焊盤需≥80%鋼網開口,確保0.15mm錫膏量;

    • NTC 0603封裝必須遠離高頻變壓器>5mm,避免熱耦合誤動作。

  2. SMT貼片工藝
    使用10溫區回流爐,峰值溫度控制在245℃±3℃,防止NTC因>250℃發生不可逆阻值跌落;MOSFET采用“T”形鋼網+0.12mm階梯,降低空洞率至<5%,提升SOA余量。

  3. AOI+ICT雙重檢測
    AOI重點檢查MOSFET極性、NTC絲印;ICT針床增加Kelvin四線測試,對軟啟動電阻精度±1%進行校驗,確保實際限流點與設計值偏差<3%。

  4. FCT上電腳本
    1943科技自研“階梯加壓”算法:0→30%→60%→100%額定電壓,每階梯200ms,記錄浪涌峰值。腳本判定:

    • 若IINRUSH>1.5×IWORK,則自動標記FAIL并回傳MES;

    • PASS板卡繼續跑全功能,減少現場人工判定誤差。

  5. 老化段再確認
    每批次抽5%做-40℃/+85℃循環老化,上下電各500次,監測軟啟動MOSFET溫升<20℃,驗證NTC冷卻恢復時間<30s,保證客戶現場可連續開關機不疲勞。

測試工位

五、典型參數速查表

功率等級 推薦方案 限流斜率 浪涌目標 關鍵器件封裝
≤15W NTC 5D-9 —— <10×Iwork 9mm直插/貼片
15-50W MOSFET dV/dt 2V/ms <5×Iwork DPAK
50-150W 繼電器+電阻 10ms延時 <3×Iwork T90繼電器
≥150W Hot-Swap 0.5A/μs <1.5×Iwork QFN-24

六、常見坑位提醒

  1. 把NTC當“萬能”:高溫車間(>50℃)老化時,NTC阻值掉到1/3,浪涌反而變大,需并聯小電阻做“最小值兜底”。

  2. MOSFET線性區停留太久:Gate RC過大導致10ms以上線性工作,SOA瞬間超標而炸管;建議用示波器實測VGS、VDS波形,確保線性區<5ms。

  3. 忽略“黑箱”測試儀:客戶現場ATE內阻極低,比廠內源更“硬”,務必讓測試儀也帶軟啟動,否則出廠PASS到客戶端FAIL。

七、總結:軟啟動不是成本,是保險

在1943科技十余年的SMT貼片加工與PCBA測試經驗里,軟啟動設計占“上電故障”改善率的70%以上。把浪涌電流從百安降到幾安,一顆MOSFET或一顆NTC的成本,往往只是后端返修/賠料的十分之一。把軟啟動放在DFM階段,而不是出了問題再加“補丁”,才能真正降低總擁有成本,提升客戶一次性交付滿意度。

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